ZEISS O-SELECT 數(shù)字測量儀
可靠測量,一鍵啟動
使用ZEISS O-SELECT數(shù)字測量儀,二維零部件的測量變的簡單且測量結(jié)果可靠。全自動的照明設(shè)置與聚焦,消除了人為操作對測量的影響。
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ZEISS O-Inspect復(fù)合式測量機(jī)
量身定制
ZEISS的O-INSPECT復(fù)合式測量機(jī)能夠使您通過光學(xué)或接觸式對每個特性進(jìn)行最佳測量。
ZEISS T-SCAN 三維光學(xué)掃描檢測系統(tǒng)
手持激光式,快速簡單、易于操作
手持激光式,快速簡單、易于操作
由于手持式激光掃描儀ZEISS T-SCAN CS的應(yīng)用,使得快速、直觀和高速精確的3D掃描在坐標(biāo)測量技術(shù)中進(jìn)行全新的高度。
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ZEISS的O-INSPECT復(fù)合式測量機(jī)能夠使您通過光學(xué)或接觸式對每個特性進(jìn)行最佳測量。
特點:O-INSPECT在18-30℃的溫度范圍內(nèi)提供符合ISO標(biāo)準(zhǔn)的可靠三維精度。
節(jié)省反復(fù)測量任務(wù)的時間,快速采集三維幾何形狀和表面數(shù)據(jù)已成為與生產(chǎn)相關(guān)的質(zhì)量保證流程中最具決定性的標(biāo)準(zhǔn)之一。
您還在使用傳統(tǒng)的三坐標(biāo)(CMM) 測量儀嗎?您想提高工作效率嗎?您想使用最新的高效率,高精度,適用于自由曲面數(shù)據(jù)獲取的光學(xué)測量系統(tǒng)嗎?本份白皮書向您介紹 最新技術(shù):德國ZEISS光電技術(shù)有限公司利用光柵投影原理研發(fā)生產(chǎn)的COMET系列三維 光學(xué)掃描系統(tǒng)。
本份白皮書介紹了創(chuàng)新的三維光學(xué)掃描量測系統(tǒng)/技術(shù)(ZEISS OPTOTECHNIK 三維光學(xué)掃描 COMET 系列, T-SCAN 系列) 與傳統(tǒng)接觸式測頭量測系統(tǒng)/技術(shù)之間的區(qū)別。